Test resistenza ai raggi X delle memorie

resistenza ai raggi x

Molti di noi, in occasione di un viaggio, si sono ritrovati nella condizione di dover far passare la propria attrezzatura fotografica attraverso un punto di controllo ai raggi X (tipica situazione negli aereoporti).

E' risaputo che le emulsioni fotografiche vengono danneggiate dai raggi X, e l'immagine dopo lo sviluppo risulta velata:
in queste situazioni la preoccupazione per le nostre immagini è d'obbligo.

Personalmente in passato ho acquistato un sacchetto in piombo per proteggere le mie pellicole durante i controlli.

Ma nell'era del digitale questo pericolo esiste ancora?
Il sito Croato e-fotografija ha pubblicato un interessante e completo articolo, in lingua inglese, nel quale vengono descritti i rigidi test, sia meccanici, sia di temperatura che, appunto, di raggi X, ai quali è stata sottoposta una scheda della ATP, azienda finora conosciuta sopratutto per le sue schede di alta qualità per uso industriale: Il modello testato è la ATP Pro Max da 4 Gb.

Per farla breve il test ha dimostrato che la scheda può passare tranquillamente un controllo in aereoporto senza che i files in essa contenuti subiscano alcuna modifica.

Certamente la piccola SD sottoposta alle prove è di alta gamma ma tutto fa pensare che la stessa resistenza, quanto meno alle radiazioni, possano averla tutte le schede di memoria in commercio.

E a voi è mai capitato di avere problemi con i raggi X?

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